题名：纳米CMOS集成电路中的小延迟缺陷检测
载体形态项：XIII, 191页:图;24cm
丛编项：国际信息工程先进技术译丛
书目附注：有书目 (第184-191页)
出版发行项：北京:机械工业出版社,2016
ISBN及定价：978-7-111-52184-6/CNY59.90
豆瓣简介：
统一题名：Testing for small-delay defects in nanoscale CMOS integrated circuits
提要文摘附注：本书分为4个部分: 第1部分主要介绍了时序敏感自动测试向量生成 (ATPG) ; 第2部分介绍全速测试, 并且提出了一种超速测试的测试方法用于检测SDD ; 第3部分介绍了一种SDD测试的替代方案 ; 第4部分介绍了SDD的测试标准等内容。
相关题名附注：英文题名取自封面
学科主题：纳米材料-CMOS电路-缺陷检测
个人责任者：查克拉巴蒂 (Chakrabarty, Krishnendu) 主编
中图法分类号：TN432
题名/责任者：纳米CMOS集成电路中的小延迟缺陷检测/(美) 桑迪普 K.戈埃尔, (印) 科瑞申恩度·查克拉巴蒂主编 续海涛等译
个人次要责任者：续海涛 译
馆 藏 分 布 情 况：
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TN432/0007 迎西校区书库（三层） 查看定位 可借 |
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100201705959 |
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100201507146 |
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100201507147 |
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虎峪校区书库 |
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